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比表面積及微孔

微孔分析儀高精度微孔檢測(cè)

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BSD-PM高性能微孔測(cè)試

更新時(shí)間：2024-10-25

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高性能高性能微孔測(cè)試儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求*的科研單位和企業(yè)用戶。
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BSD-PM高性能微孔分析

更新時(shí)間：2024-10-25

型號(hào)：BSD-PM

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BSD-PM高性能微孔分析儀

更新時(shí)間：2024-10-25

型號(hào)：BSD-PM

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BSD-PMBET比表面及孔隙度檢測(cè)

更新時(shí)間：2024-10-25

型號(hào)：BSD-PM

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BET比表面及孔隙度檢測(cè)儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內(nèi)，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國內(nèi)技術(shù)*,。
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BSD-PSBET比表面及孔隙度檢測(cè)儀

更新時(shí)間：2024-10-25

型號(hào)：BSD-PS

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BET比表面及孔隙度檢測(cè)儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內(nèi)，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國內(nèi)技術(shù)*,。
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BSD-PSM珍珠巖高精度微孔分析

更新時(shí)間：2024-10-25

型號(hào)：BSD-PSM

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珍珠巖高精度微孔分析，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內(nèi)，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國內(nèi)技術(shù)
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